3月11日 DIII-D托卡马克装置全破裂过程真实位形模拟

报告时间：2026年3月11日（周三）上午9:30-11:00

报告地点：四号楼5楼中间会议室

报 告 人：赵忱

主 持 人：徐立清 副研究员

报告内容简介：

在未来的托卡马克装置计划中，包括ITER，SPARC，BEST等，都具备较大的电流或较强的磁场。这些装置运行中如果产生破裂已经破裂过程中产生大量逃逸电子，将会对装置产生致命伤害。为此破裂中和方案以及逃逸电子抑制方案对这些强电流强磁场装置的运行计划设计将会起到直观重要的作用。因此，基于现有装置破裂的高保真模拟至关重要，可以为未来装置破裂中和方案提供必要参考。本工作是基于DIII-D使用氩杂质中和破裂放电的真实参数以及磁场平衡为基础，模拟放电末期的全不破裂过程，包括杂质注入，温度和电流下降过程以及逃逸电子的产生及损失。在模拟中发现MHD不稳定性造成的三维磁场随机化过程能有效排出逃逸电子，从而减小逃逸电子造成的伤害。模拟结果与实验吻合较好，也给破裂中和方案提供了理论模拟参考。该模拟为世界首次真实位形全破裂过程并加入杂质及逃逸电子的模拟。 

报告人简介：

赵忱，于浙江大学获博士学位，并在普林斯顿大学从事博士后研究，现就职于美国通用原子能公司（General Atomics）。长期专注于磁约束聚变装置中的磁流体力学（MHD）建模与模拟，研究涵盖动理学模拟、MHD稳定性分析及逃逸电子与等离子体相互作用。在 Nuclear Fusion、Physics of Plasmas 等期刊发表论文多篇，多次在APS‑DPP、IAEA FEC等国际会议作口头或邀请报告。具备扎实的理论功底与高性能计算经验，熟练掌握FORTRAN、Python、CUDA等编程工具。