10月17日 Damage profile dependence on D retention in damaged W and its application for tritium safety evaluation using HIDT simulation

　　题  目：Damage profile dependence on D retention in damaged W and its application for tritium safety evaluation using HIDT simulation

　　报告人： Prof. Yasuhisa Oya (Shizuoka University)

　　时  间：2017年10月17日（星期二）  9:00 - 10:00

　　地  点：四号楼4楼中间会议室

　　～欢迎感兴趣的同志参加～